技術分野

化学

主要設備・機器

金属・無機材料　関連装置

プラズマ発光分析装置(ICP-AES)

  • 定性・主成分分析・微量分析に至るあらゆる金属分析
  • 分解能の優れたシーケンシャル型高周波プラズマ発光装置を採用し、干渉の多い金属材料中の微量分析にも対応可能
  • 真空型分光器によりリン・ホウ素・硫黄を精度良く測定可能
  • プラズマ発光分析装置(ICP-AES)
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X線回折装置(XRD)

  • 固体（結晶性化合物）の定性分析、結晶の格子間距離の測定
  • 残留応力測定、残留オーステナイトの定量
  • モノキャピラリーによる微小領域測定が可能
  • 物質の加熱による変化・変態等をリアルタイムで知ることが出来る高温測定が可能
  • 極点測定や2次元検出器を用いた測定による配向等の結晶状態の評価
  • X線回折装置(XRD)
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全反射光電子分光分析装置(TRXPS)

  • 材料表面近傍の深さ方向評価、材料表面の腐食・変色・酸化等の調査
  • 各種未知化合物の化合形態の推定、半導体表面等の汚染物質調査
  • 高速イオン銃や全反射測定用高精度ステージなどを装備し、幅広い試料への応用が可能
  • 全反射光電子分光分析装置(TRXPS)
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イオンクロマトグラフ分析装置(IC)

  • 環境中の無機イオンの分析、付着した腐食成分の分析
  • 有機物試料中ハロゲンや硫黄の微量分析、油中混入水分の調査
  • 「充填剤との親和力の差」と「溶離液への溶解力の差」によって分離・溶出させ、陽イオンと陰イオンを分離・定量することが可能な装置
  • イオンクロマトグラフ分析装置(IC)
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炭素硫黄同時分析装置

  • 鉄鋼・非鉄金属（銅合金・アルミ合金）・非金属試料等の炭素・硫黄同時分析
  • 高周波誘導加熱炉燃焼－赤外線吸収法（ＪＩＳ　Ｇ１２１１）を採用
  • 標準物質はすべてＪＳＳ（日本鉄鋼協会）の認証品を使用
  • 炭素硫黄同時分析装置
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電気分解分析装置

  • 銅合金中のCu（銅）を高精度で分析
  • JIS H1011 H1051 銅電解重量法に適応
  • 電気分解分析装置
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高分子材料　関連装置

フーリエ変換赤外分光分析装置(FT-IR)

  • 各種有機化合物の同定、各種有機材料の同定
  • 油脂他・有機系成分の定量
  • 顕微ＦＴ－ＩＲ装置やＡＴＲアタッチメント等の豊富なアクセサリの装備により、微小サンプルや表面情報の取得などが可能
  • フーリエ変換赤外分光分析装置(FT-IR)
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示差熱熱重量同時測定装置(TG-DTA)

  • 昇華・蒸発・熱分解・脱水等の重量変化測定
  • 耐熱性等の評価、反応速度・促進劣化試験
  • 有機材料や無機材料の熱重量測定と示差熱分析を同時に測定できる装置
  • 室温から１３００℃までの温度変動が可能
  • 示差熱熱重量同時測定装置(TG-DTA)
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示差走査熱量計(DSC)

  • 融解・ガラス転移・結晶化等の反応や熱履歴の検討／比熱容量の測定
  • 有機材料や無機材料の示差走査熱量測定がおこなえる装置
  • 高感度型と高温型のモデルを用いて－１５０から１３００℃の広範囲測定が可能
  • 示差走査熱量計(DSC)
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熱機械分析装置(TMA)

  • 線膨張率（収縮量）・線膨張係数の測定
  • 軟化温度、ガラス転移温度、フィルム伸長率の測定
  • 試料に一定荷重をかけながら、温度変化に伴う形状変化を測定する装置
  • 温度は－１５０から１１００℃まで変動可能
  • 熱機械分析装置(TMA)
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サイズ排除クロマトグラフ(SEC)

  • 高分子材料の分子量分布測定
  • 多孔質ゲル充填カラムを用いることにより、各種有機化合物・高分子化合物を分子の大きさごとに分離可能な装置
  • サイズ排除クロマトグラフ(SEC)
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熱分解ガスクロマトグラフ質量分析計(PY-GC/MS)

  • 各種固形異物、各高分子材料の材料調査
  • 各種高分子材料中の添加剤および残留溶媒の分析
  • 熱脱着／熱分解装置をＧＣに搭載し、固形物を前処理することなく直接導入することが可能な装置
  • 熱分解ガスクロマトグラフ質量分析計(PY-GC/MS)
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オゾン劣化試験機

  • 屋外よりも過酷なオゾン環境下での劣化促進試験機
  • オゾン濃度範囲0.2ppm～ 300ppm (20pphm～30,000pphm)
  • 温度調節範囲（室温＋10℃）～100℃
  • オゾン劣化試験機
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油脂・燃料　関連装置

ボンベ型熱量計

  • 油・木屑・廃棄物等の燃焼可能な物質の発熱量の測定
  • 密閉されたボンベ内で燃焼させたときに変化する
  • 一定容量の水の上昇温度から物質の発熱量を測定できる装置
  • ボンベ型熱量計
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波長分散型蛍光X線分光分析装置(XRF)

  • 各種異物、粉体試料の組成分析
  • 各種金属材料、高分子材料の組成分析
  • 5B～92Uに対して元素分析が可能
  • 波長分散型蛍光X線分光分析装置(XRF)
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フェログラフィ分析装置

  • 潤滑油や動作油中の磨耗粉の量・大きさ・形状・色等を測定・観察することによって機械の磨耗による故障を予知診断
  • 異常が検出された試料は、光学顕微鏡で磨耗発生の来歴を推定可能
  • 磨耗粒子の色の変化や偏光観察により組成や材質を推定可能
  • フェログラフィ分析装置
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HIAC液中微粒子計測器

  • 潤滑油の汚染管理（特に油圧関連）、燃料油中の異物管理
  • 機械・設備等の異常予知診断（フェログラフィやSOAP分析を併用）
  • フラッシング前後の装置内清浄状況の把握
  • 潤滑油中の汚染粒子の量を分類する規格(NAS 1638・ISO 4406)を計測する装置
  • HIAC液中微粒子計測器
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プラズマ発光分析装置（ＳＯＡＰ分析）

  • 潤滑油中の金属摩耗粉や添加剤元素の分析
  • マルチ型プラズマ発光分析装置を油専用機とし、迅速分析に対応可
  • 異物混入や摩耗元素、添加剤元素の傾向管理より故障予知に活用
  • プラズマ発光分析装置（ＳＯＡＰ分析）
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表面分析　関連装置

波長分散型蛍光X線分光分析装置(XRF)

  • 各種異物、粉体試料の組成分析
  • 各種金属材料、高分子材料の組成分析
  • 5B～92Uに対して元素分析が可能
  • 波長分散型蛍光X線分光分析装置(XRF)
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X線回折装置(XRD)

  • 固体（結晶性化合物）の定性分析、結晶の格子間距離の測定
  • 残留応力測定、残留オーステナイトの定量
  • モノキャピラリーによる微小領域測定が可能
  • 物質の加熱による変化・変態等をリアルタイムで知ることが出来る高温測定が可能
  • 極点測定や2次元検出器を用いた測定による配向等の結晶状態の評価
  • X線回折装置(XRD)
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フーリエ変換赤外分光分析装置(FT-IR)

  • 各種有機化合物の同定、各種有機材料の同定
  • 油脂他・有機系成分の定量
  • 顕微ＦＴ－ＩＲ装置やＡＴＲアタッチメント等の豊富なアクセサリの装備により、微小サンプルや表面情報の取得などが可能
  • フーリエ変換赤外分光分析装置(FT-IR)
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走査型電子顕微鏡(SEM)

  • 微小異物・付着物の調査
  • 各種材料表面・破断面の観察など
  • エネルギー分散型（ＥＤＳ）検出器も搭載し、二次電子像で表面形状を確認すると同時に、元素情報を取得可能
  • 走査型電子顕微鏡(SEM)
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電子線マイクロアナライザー(EPMA)

  • 金属組織中の析出物や介在物の組成分析
  • 合金の組成分析および定量分析、異種材料界面の拡散状況の解析など
  • 波長分散型（ＷＤＳ）検出器を搭載し、超軽元素から重元素まで検出可能
  • 電子線マイクロアナライザー(EPMA)
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粉体分析　関連装置

レーザー光回折・散乱式粒度分布計

  • 灰・医薬品・液中浮遊物等の粒度分布測定
  • セメント・フィルタ付着ダスト等の粒度分布測定
  • 0.02から1400μmの粒度分布が可能
  • レーザー光回折・散乱式粒度分布計
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比表面積／細孔分布測定装置

  • セメント・ガラス・吸着剤・焼結体・薬品・化粧品等の細孔分布等の測定
  • 1から100nmの細孔分布測定が可能
  • 試料の比表面積・細孔容量等の物質表面状態に関する情報を取得可能
  • 比表面積／細孔分布測定装置
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ガス分析　関連装置

ガスクロマトグラフ(GC)

  • 揮発性有機化合物および無機ガス等の分離・定量
  • 検出器はFID、TCD、FPD、FTDを装備
  • ガスクロマトグラフ(GC)
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ガスクロマトグラフ質量分析計(GC/MS)

  • オイル、樹脂の添加剤分析
  • 各種液体・気体試料に含まれる未知成分の定性・定量分析
  • 約150,000件におよぶ質量スペクトルデータベースを搭載
  • ガスクロマトグラフ質量分析計(GC/MS)
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不具合調査　関連装置

波長分散型蛍光X線分光分析装置(XRF)

  • 各種異物、粉体試料の組成分析
  • 各種金属材料、高分子材料の組成分析
  • 5B～92Uに対して元素分析が可能
  • 波長分散型蛍光X線分光分析装置(XRF)
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X線分析顕微鏡（XGT）

  • 微小異物分析
  • 樹脂中異物の非破壊分析
  • 11Na～92Uに対して定性・定量分析が可能
  • X線分析顕微鏡（XGT）
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X線回折装置(XRD)

  • 固体（結晶性化合物）の定性分析、結晶の格子間距離の測定
  • 残留応力測定、残留オーステナイトの定量
  • モノキャピラリーによる微小領域測定が可能
  • 物質の加熱による変化・変態等をリアルタイムで知ることが出来る高温測定が可能
  • 極点測定や2次元検出器を用いた測定による配向等の結晶状態の評価
  • X線回折装置(XRD)
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熱分解ガスクロマトグラフ質量分析計(PY-GC/MS)

  • 各種固形異物、各高分子材料の材料調査
  • 各種高分子材料中の添加剤および残留溶媒の分析
  • 熱脱着／熱分解装置をＧＣに搭載し、固形物を前処理することなく直接導入することが可能な装置
  • 熱分解ガスクロマトグラフ質量分析計(PY-GC/MS)
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フーリエ変換赤外分光分析装置(FT-IR)

  • 各種有機化合物の同定、各種有機材料の同定
  • 油脂他・有機系成分の定量
  • 顕微ＦＴ－ＩＲ装置やＡＴＲアタッチメント等の豊富なアクセサリの装備により、微小サンプルや表面情報の取得などが可能
  • フーリエ変換赤外分光分析装置(FT-IR)
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イオンクロマトグラフ分析装置(IC)

  • 環境中の無機イオンの分析、付着した腐食成分の分析
  • 有機物試料中ハロゲンや硫黄の微量分析、油中混入水分の調査
  • 「充填剤との親和力の差」と「溶離液への溶解力の差」によって分離・溶出させ、陽イオンと陰イオンを分離・定量することが可能な装置
  • イオンクロマトグラフ分析装置(IC)
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各種化学物質の組成分析　関連装置

プラズマ発光分析装置(ICP-AES)

  • 定性・主成分分析・微量分析に至るあらゆる金属分析
  • 分解能の優れたシーケンシャル型高周波プラズマ発光装置を採用し、干渉の多い金属材料中の微量分析にも対応可能
  • 真空型分光器によりリン・ホウ素・硫黄を精度良く測定可能
  • プラズマ発光分析装置(ICP-AES)
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X線回折装置(XRD)

  • 固体（結晶性化合物）の定性分析、結晶の格子間距離の測定
  • 残留応力測定、残留オーステナイトの定量
  • モノキャピラリーによる微小領域測定が可能
  • 物質の加熱による変化・変態等をリアルタイムで知ることが出来る高温測定が可能
  • 極点測定や2次元検出器を用いた測定による配向等の結晶状態の評価
  • X線回折装置(XRD)
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高速液体クロマトグラフ(HPLC)

  • 各種有機化合物の定量
  • 各種有機化合物の分取、精製など
  • PDA検出器による３次元情報の取得が可能
  • 高速液体クロマトグラフ(HPLC)
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ガスクロマトグラフ(GC)

  • 揮発性有機化合物および無機ガス等の分離・定量
  • 検出器はFID、TCD、FPD、FTDを装備
  • ガスクロマトグラフ(GC)
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紫外・可視分光分析装置(UV-VIS)

  • 紫外・可視領域に吸収を示す物質（水・有機溶媒に可溶なもの）の測定
  • ガラス版の透過率測定
  • 試料に紫外・可視光を照射し、得られた吸収スペクトルより成分の定量を行うことが可能な装置
  • 紫外・可視分光分析装置(UV-VIS)
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